Przejdź do treści
Instytut Nauk Technicznych Laboratoria Laboratorium spektroskopii optycznej i magnetooptyki

Laboratorium spektroskopii optycznej i magnetooptyki

Laboratorium posiada nowoczesną aparaturę badawczą o wysokiej czułości i szerokim spektrum pomiarowym. Aparatura wchodząca w skład laboratorium umożliwia prowadzenie badań strukturalnych, optycznych i fotoelektrycznych. Dzięki tym badaniom można m. in. zidentyfikować strukturę cząsteczkową materiałów, przemiany fazowe, kinetykę reakcji chemicznych.

Wykaz urządzeń oraz aparatury pomiarowej:

  1. Spektrometr IRTracer-100 FT-IR firmy Shimadzu (zakres 400 cm-1 – 4000 cm-1), współczynnik sygnału do szumu (S/N) – 60 000:1, rozdzielczość – 0.25 cm-1, prędkości skanowania – do 20 widm na sekundę. Wyposażony w detektory rozszerzające zakres pomiarowy o FIR i NIR czyli od 240 cm-1 do 12400 cm-1. Przystawka odbiciowa ATR firmy PIKE umożliwia pomiar materiałów litych, proszków i cieczy.
  2. Spektrofotometr fotoelektryczny firmy Instytut Fotonowy – umożliwia pomiar przewodnictwa prądu elektrycznego materiałów optycznie aktywnych w funkcji przyłożonego napięcia i długości padającej fali. Materiał można oświetlać światłem białym lub wybraną falą o długości od 200 nm do 1100 nm z krokiem 1 nm. Aparatura służy m in. do testowania materiałów optycznie czynnych, fotodiod i paneli słonecznych.
  3. Spektrometr SilverNova StellarNet pracujący w zakresie od 190 nm-1110 nm z rozdzielczością 0.5 nm oraz NIRQUEST+2.5 OceanInsight umożliwiający pomiary w zakresie od 900 nm do 2500 nm. Dzięki tym urządzeniom, możliwe są pomiary m in. transparencji, absorbcji, barwy, starzenia materiału, wyznaczania przerwy energetycznej, badanie zjawisk fotochromowych i luminescencji. Urządzenia sprzęgnięte są szerokopasmowymi światłowodami ze sferą całkującą IC2 firmy StellarNet.
  4. Aparatura pomiarowa firmy Shimadzu SALD-7500nano do analizy rozkładu wielkości ziaren działająca w oparciu o technikę DLS (dynamicznie rozpraszanie światła). Urządzenie wykorzystuje laser o długości fali 405 nm, który umożliwia badanie cząstek od 7 nm do kilkuset mikrometrów.